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Published:1980
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[J]. 1980, (2): 23-26.
DOI:
[J]. 1980, (2): 23-26. DOI:
一、前言随着科学技术的不断发展
窄带滤光片应用的范围愈来愈广
这就对滤光片的性能提出了各种各样的要求
不但要求它有好的光学性能
而且要求它具有好的膜层牢固性和光谱稳定性。目前在干涉滤光片的使用和贮存过程中
最突出的问题是其光谱稳定性。如果说
一块干涉滤光片的光学参数(λ_0、δ_(λ0.5)、T_0等)随时间而变化
那么我们借此测量的数据将前后有矛盾
借此控制的仪器将失灵
……等等。这当然是不能允许的!例如在分离激光辐射时
滤光片峰值透过波长甚至不允许有几个埃的变化。但是
目前用电阻加热法镀制的滤光片其
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