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Published:1981
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[J]. 1981, (6): 21-24.
DOI:
[J]. 1981, (6): 21-24. DOI:
一、引言在研究波导时
通常使用棱镜底部消失波来激励薄膜中的波。利用进入薄膜波导中耦合光的性质来测量薄膜折射率和厚度。由于这两个薄膜参数的测量误差主要取决于棱镜的折射角和材料折射率的测量精度
因此
必须精确地测量这两个量。理想的情况是棱镜折射率应当比薄膜的折射率高
通常使用折射率很高的材料。由于在所研究的波导中光束直径一般只有零点几毫米
所以棱镜的表面面积总共也只有几平方毫米
这样
给精确测量棱镜造成了困难。
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