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Published:1983
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[J]. 1983, (6).
DOI:
[J]. 1983, (6). DOI:
用平面干涉仪的未镀膜标准平板检验已镀膜的光学平板时
由于二者反射率的差异较大致使干涉条纹对比度显著下降
甚至失去检验能力。
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