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1:机电部二○五所
Published:1991
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Measuring and controlling the edge thickness difference and center aberration With projector[J]. 1991, (3).
DOI:
Measuring and controlling the edge thickness difference and center aberration With projector[J]. 1991, (3). DOI:
用投影仪检控边厚差和中心偏差的方法
解决了特别小的不可见光透镜、可见光透镜在生产过程中控制边厚差及中心偏差的验收问题。本文还介绍了投影屏上的分划形式
以及调试放大投影像进行测量的方法。
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