3—D Measuring technique based on moire topography and image processing

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3—D Measuring technique based on moire topography and image processing

更新时间：2025-09-01

- 3—D Measuring technique based on moire topography and image processing
- Issue 1, (1993)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科技大学精密机械系
  2. 2:中国科技大学精密机械系,合肥,230026
  3. 3,合肥,230026
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：1993
- 稿件说明：
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3—D Measuring technique based on moire topography and image processing[J]. 1993, (1).
DOI：

3—D Measuring technique based on moire topography and image processing[J]. 1993, (1). DOI：

摘要

本文叙述了一种新型三维物体表面测量方法

该方法利用单光栅投射待测物体表面而获取变形光栅像

然后应用图像处理方法

通过微机计算出物体表面各点高度。该方法测试精度高

速度快。文中对其原理进行了详细的叙述。并讨论了该法的测量范围、灵敏度。

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