Fast measurement spherical surface &amp; fast patching up   aspherical surface

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Fast measurement spherical surface & fast patching up aspherical surface

更新时间：2025-09-01

- Fast measurement spherical surface & fast patching up aspherical surface
- Issue 3, (1998)
- 作者机构：
  
  1:浙江大学现代光学仪器国家重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：1998
- 稿件说明：
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Fast measurement spherical surface & fast patching up aspherical surface[J]. 1998, (3).
DOI：

Fast measurement spherical surface & fast patching up aspherical surface[J]. 1998, (3). DOI：

摘要

利用立式车间用球面干涉仪实现比较法球面面形测量，一次调整好以后可以达到多片快速测量，避免复杂的调整，通过监示器看到光圈；并可以通过条纹扫描技术实现光圈数Ｎ及局部光圈数ΔＮ的自动客观判读；对于低陡度非球面的多块拼接，可以籍助“非球面特征干涉图”实现快速初步拼接，然后再用每个子孔径的相位探测实现整个孔径的拼接，并可以通过数字的测量与波面相减自动获得非球面的面形误差。

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