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1. 1:北京理工大学光电工程系
2. 2:清华大学精仪系,精密测试技术与仪器国家重点实验室
3. 3:长城计量测试技术研究所
Published:1998
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New image processing method for phase plate diffraction image[J]. 1998, (4).
DOI:
New image processing method for phase plate diffraction image[J]. 1998, (4). DOI:
本文介绍了在半导体激光光纤和位相板相结合的准直情况下,利用CCD探测器测量大尺寸形位误差的原理,并针对位相板衍射图像的特点,提出了一种处理此类衍射图样的图像处理新方法——投影法。同在时间上采用的多次平均的方法相比较,投影法相当于采用了空间上的平均,消除了CCD表面保护玻璃形成的干涉条纹的影响,对空气扰动也起到了很好的抑制作用。并且使二维图像处理变为一维计算,大大提高了计算速度
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