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1:清华大学测试技术与仪器国家重点实验室
Published:1998
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Latest development of the Xray interferometry[J]. 1998, (4).
DOI:
Latest development of the Xray interferometry[J]. 1998, (4). DOI:
结合X射线干涉的基本特点,介绍了X射线干涉仪的几种基本形式。阐述了X射线干涉测量技术在纳米长度测量、小角度测量、SPM的定标以及在其它测量领域内的最新进展,并对X射线干涉测量技术的发展作了展望。
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