Using linear array CCD for long distance diffraction   alignment measurment

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Using linear array CCD for long distance diffraction alignment measurment

更新时间：2025-09-01

- Using linear array CCD for long distance diffraction alignment measurment
- Issue 2, (1999)
- 作者机构：
  
  1:中国科技大学精密机械系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：1999
- 稿件说明：
移动端阅览
Using linear array CCD for long distance diffraction alignment measurment[J]. 1999, (2).
DOI：

Using linear array CCD for long distance diffraction alignment measurment[J]. 1999, (2). DOI：

为了测定光纤出射光斑坐标的位置，让光耦合进一根光纤，在光纤的另一端对出射的光斑用线阵ＣＣＤ进行扫描。针对接收到的一维方向上的光电信号数据，分别采用了最大值法、截止电压法和重心法进行处理，并对它们的结果进行了比较和分析。实验结果证明由重心法得到的信号位置具有重复精度高、稳定性好等特点。

Views

456

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

Optimally nonlinear weighting method for light-spot positioning

The summary of algorithms for white-light scanning interferometry

Iteration algorithm of surface fitting in the detection of light-spot position

Cosmic rays “hiting” against CCD sensor and preventive measures

The study of simulation experiment using plane CCD to measure the micro move of stars

Related Author

邢晓正

李为民

潘静

李达成

郭宏

杨天博

邓伟平

王骞

Related Institution

3:中国科学技术大学精密机械与精密机械系

2:中国科学技术大学精密机械与精密机械系

1:中国科学技术大学精密机械与精密机械系

3:清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室

⁰