The research on the relation between the optics density   of the X-ray and the output information   voltage of micro-densimeter

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The research on the relation between the optics density of the X-ray and the output information voltage of micro-densimeter

更新时间：2025-09-01

- The research on the relation between the optics density of the X-ray and the output information voltage of micro-densimeter
- Issue 4, Pages: 340-341(2001)
- 作者机构：
  
  1. 1:泰山医学院放射系,山东,泰安,271000
  2. 2:泰山医学院放射系,山东,泰安,271000
  3. 3:泰山医学院放射系,山东,泰安,271000
  4. 4:泰山医学院放射系,山东,泰安,271000
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2001
- 稿件说明：
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The research on the relation between the optics density of the X-ray and the output information voltage of micro-densimeter[J]. 2001, (4): 340-341.
DOI：

The research on the relation between the optics density of the X-ray and the output information voltage of micro-densimeter[J]. 2001, (4): 340-341. DOI：

探索了 X射线照片密度与显微密度计信号电压之间的关系。利用曲线拟合得到了 X射线照片光密度与输出电压关系的公式。经公式计算的密度值与实测密度值之间差别不大

其标准估计误差为 0 .0 178

完全可以用计算密度值来代替实测密度值。直接取其显微密度计输出的电信号

经公式转换成光学密度值后再进行 X射线照片的各种性能测试

避免了部分测试和换算误差

克服了过去密度测量的不便

提高了效率

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