Discussion of wavefront error and slope error   of the surface on the assessment method

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Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method

更新时间：2025-09-01

- Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method
- Issue 6, Pages: 543-544(2001)
- 作者机构：
  
  1. 1:苏州大学现代光学技术省重点实验室
  2. 2:苏州大学现代光学技术省重点实验室
  3. 3:苏州大学现代光学技术省重点实验室
  4. 4:苏州大学现代光学技术省重点实验室,江苏,苏州,215006
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2001
- 稿件说明：
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Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method[J]. 2001, (6): 543-544.
DOI：

Discussion of wavefront error and slope error of the surface on the assessment method[J]. 2001, (6): 543-544. DOI：

对用波差与表面斜率误差评价光学元件面形误差的方法进行了比较和讨论。以具有不同面形精度的光学元件

在不同的数据处理方法下得到的结果为例

说明此两种面形评价方法在数据处理方法不同时在数值上的联系。

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