Measurement of the reflection curve of crystals used in the   monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL

更新时间：2025-09-01

- Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL
- Issue 6, Pages: 541-542(2001)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科技大学国家同步辐射实验室
  2. 2:中国科技大学国家同步辐射实验室
  3. 3:中国科技大学国家同步辐射实验室
  4. 4:中国科技大学国家同步辐射实验室,安徽,合肥,230029
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2001
- 稿件说明：
移动端阅览
Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL[J]. 2001, (6): 541-542.
DOI：

Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL[J]. 2001, (6): 541-542. DOI：

摘要

合肥X射线衍射光束线装备了一台以两晶体无色散 ( +n

-n)排列

能量可连续扫描

空间位置固定输出为特点的双晶单色仪。选用单晶硅作为分光元件

它所对应的不同能量产生的全反射的本征宽度决定了双晶单色仪的分辨率。因此

晶体在投入使用之前

测量它的本征宽度

为单色仪的调试提供依据是非常必要的。介绍了用于合肥X射线衍射光束线单色仪中两块晶体的测量

包括测试方法、装置、测量结果和分析。

Abstract

关键词

Keywords

references

Views

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

Study on the arrangement of multi-aperture beams array and error effects on the coherent combination efficiency

Angular spectrum analysis of the diffraction effect of microwave links by flying objects(Invited)

Effect of the amplitude mask on the modulation instability of nonlinear system

Contrast analysis of dynamic speckles and Doppler effect

Research of wavelength division multiplexing based on volume phase holographic grating

Related Author

韩松

陈园园

李川

张志强

史俊锋

李晔

孙鑫鹏

王彤璐

Related Institution

1:中国南方工业研究院

2:北京理工大学光电学院

1:Department of Electrical Electronic and Computer Engineering The University of Western Australia

2:山东师范大学物理与电子科学学院

1:菏泽学院物理与电子工程系

⁰