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1. 1:清华大学精密仪器系
2. 2:清华大学精密仪器系
3. 3:清华大学精密仪器系,北京,100084
4. 4,北京,100084
Published:2002
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Application of the Schlieren method in the observing of solute concentration profiles[J]. 2002, (4): 343-344.
DOI:
Application of the Schlieren method in the observing of solute concentration profiles[J]. 2002, (4): 343-344. DOI:
休伦法 (Schlierenmethod)在观察物质流的折射率梯度方面的应用已有相当长的历史。对该方法进行改进
将其引入晶体生长的监控领域。介绍了该方法的原理及测量公式
并进行了实验观察
取得了比较理想的定性结果。结果表明
用这一方法可以很方便地观测透明物质或溶液中的折射率梯度或浓度的分布情况
特别是在晶体生长检测领域中有着广泛的应用前景。
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