Bias scan mode for fan-beam X-ray ICT and its reconstruction algorithm

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Bias scan mode for fan-beam X-ray ICT and its reconstruction algorithm

更新时间：2025-09-01

- Bias scan mode for fan-beam X-ray ICT and its reconstruction algorithm
- Issue 1, Pages: 115-118(2003)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京航空航天大学机械工程及自动化学院
  2. 2:北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100083
  3. 3,北京,100083
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2003
- 稿件说明：
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Bias scan mode for fan-beam X-ray ICT and its reconstruction algorithm[J]. 2003, (1): 115-118.
DOI：

Bias scan mode for fan-beam X-ray ICT and its reconstruction algorithm[J]. 2003, (1): 115-118. DOI：

摘要

对于较大尺寸构件ICT检测

为了避免采用费时的二代扫描

讨论了一种基于三代扫描的偏置扫描方式

推导了它的FBP重构算法。计算机模拟和实验结果证明了该算法的正确性。分析表明

在射线有效扇束角和探测器长度、位置不变的情况下

它的有效扫描视野在三代扫描的1.9倍以上。

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