Improvement of scanning near-field infrared   microscopy distance control system

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Improvement of scanning near-field infrared microscopy distance control system

更新时间：2025-09-01

- Improvement of scanning near-field infrared microscopy distance control system
- Issue 6, Pages: 547-548(2002)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院高能物理研究所
  2. 2:中国科学院高能物理研究所,北京,100080
  3. 3,北京,100080
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2002
- 稿件说明：
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Improvement of scanning near-field infrared microscopy distance control system[J]. 2002, (6): 547-548.
DOI：

Improvement of scanning near-field infrared microscopy distance control system[J]. 2002, (6): 547-548. DOI：

针尖样品的距离控制系统是扫描近场红外显微镜的重要组成部分。切变力探测作为一种重要的近场距离控制手段而得到了广泛的应用。介绍了一种对切变力探测系统的改进方法

它可以有效地提高石英晶振音叉的品质因数

进而提高探测系统对切变力感应的灵敏度。给出了理论分析和实验验证结果

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