Integrating cavity scanning used in laser diode accelerating life test

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Integrating cavity scanning used in laser diode accelerating life test

更新时间：2025-09-01

- Integrating cavity scanning used in laser diode accelerating life test
- Issue 2, Pages: 164-165(2004)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  2. 2:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  3. 3:济南军区军械雷达修理所
  4. 4:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2004
- 稿件说明：
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Integrating cavity scanning used in laser diode accelerating life test[J]. 2004, (2): 164-165.
DOI：

Integrating cavity scanning used in laser diode accelerating life test[J]. 2004, (2): 164-165. DOI：

摘要

介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试中存在的问题

并据此给出了LD高温加速寿命测试的积分球扫描法。首先将LD输出的光通过积分球耦合

然后再通过光纤耦合到探测器(PD)上

避免了LD和PD由于同时老化而带来测量不准确的缺陷。采用积分球空间移动扫描测量LD

可实现单个积分球、单个PD对多个LD的测量。

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