New application of stitching interferometry by using Ritchey-Common method for testing the large aperture optical flat

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New application of stitching interferometry by using Ritchey-Common method for testing the large aperture optical flat

更新时间：2025-09-01

- New application of stitching interferometry by using Ritchey-Common method for testing the large aperture optical flat
- Issue 4, Pages: 611-613(2005)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
  2. 2:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
  3. 3:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042
  4. 4,江苏,南京,210042
- 作者简介：
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  CLC：
- Published：2005
- 稿件说明：
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New application of stitching interferometry by using Ritchey-Common method for testing the large aperture optical flat[J]. 2005, (4): 611-613.
DOI：

New application of stitching interferometry by using Ritchey-Common method for testing the large aperture optical flat[J]. 2005, (4): 611-613. DOI：

摘要

提出了用Ritchey_Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法。通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接

解决了在检验光路中因Ritchey角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平面的大曲率所造成的像散。通过Zernike多项式拟合重建连续波面

可恢复全口径波面图像。

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