The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus

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The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus

更新时间：2025-09-01

- The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus
- Issue 2, Pages: 316-318(2006)
- 作者机构：
  
  1. 1:天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室
  2. 2:天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室
  3. 3:天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室
  4. 4:天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室
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- Published：2006
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The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus[J]. 2006, (2): 316-318.
DOI：

The parallel two-value digitalization used for quality inspection of PS plate with broad surface based on PCI bus[J]. 2006, (2): 316-318. DOI：

摘要

论述了PS版质量检测系统采集的基本原理。该系统采用了线阵CCD机械拼接扫描、多域值二值化高速数据存储、PCI高速图像采集卡、计算机控制等技术。在Visual C++6.0的环境下

用Windriver开发了PCI总线接口卡的软件驱动程序。利用示波器及其在PC机上对PS版采集系统所采集的数据进行了验证

取得了较为满意的结果。

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