Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures

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Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures

更新时间：2025-09-01

- Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures
- Issue 1, Pages: 3-7(2006)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院国家天文台天文光学与红外探测器实验室
  2. 2:UCO/Lick Observatory University of California
  3. 3:Santa Cruz
  4. 4,CA,95064
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2006
- 稿件说明：
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Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures[J]. 2006, (1): 3-7.
DOI：

Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures[J]. 2006, (1): 3-7. DOI：

摘要

介绍了实验的原理和方法;重点介绍了在低温下KAF_4301E CCD的成像特性———量子效率(QE)、电荷转移效率(CTE)、读出噪声、暗电流和满阱等的测试结果。实验结果显示

随CCD工作温度降低并超过其最小标称值后

虽然暗流则明显减小

但CTE性能快速变差。从理论上对所得的结果进行了简短的分析和讨论。分析了该型号CCD在微光成像方面的应用前景。

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