Analysis and correction of XRII-CCD pixel response nonuniformity

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Analysis and correction of XRII-CCD pixel response nonuniformity

更新时间：2025-09-01

- Analysis and correction of XRII-CCD pixel response nonuniformity
- Issue 5, Pages: 779-781(2006)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京航空航天大学机械与自动化学院
  2. 2:北京航空航天大学机械与自动化学院
  3. 3:北京航空航天大学机械与自动化学院,北京,100083
  4. 4,北京,100083
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2006
- 稿件说明：
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Analysis and correction of XRII-CCD pixel response nonuniformity[J]. 2006, (5): 779-781.
DOI：

Analysis and correction of XRII-CCD pixel response nonuniformity[J]. 2006, (5): 779-781. DOI：

摘要

X射线图像增强器像元响应不一致性是评定图像质量的重要指标

它将影响设备的探测能力和分类级别

因而很有必要对不一致性的进行校正。通过对不一致性产生机理的理论分析

建立了图像增强器的每个像元通道光电响应的对数曲线模型。基于该模型

提出了一种改进的两点校正算法。该算法首先将非线性响应转化为线性响应

然后用基于最小二乘的多点校正算法对线性数据进行校正。校正前后的图像及标准差给出了对比

实验结果表明了该校正方法的有效性。

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