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1:长春光学精密机械与物理研究所
Published:2006
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Measurement of large distorted surface profile based on inverse projected-fringe technique[J]. 2006, 32(S1): 323-325.
DOI:
Measurement of large distorted surface profile based on inverse projected-fringe technique[J]. 2006, 32(S1): 323-325. DOI:
在较高精度面形测量的光学方法中
很多测量范围都受到光波波长的限制。简述了一种利用光栅投影系统来增强其垂直方向测量范围的新方法。通过投影仪来产生能够消除表面低频变化影响的变形光栅
测量该栅线经过被检面的变形图像
通过处理得到表面的高频信息
然后将高频和低频信息叠加得到表面轮廓图。通过实验模型的建立证明
该方法具有测量精度范围宽
能实时地得到表面轮廓图。
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