Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques

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Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques

更新时间：2025-09-01

- Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques
- Vol. 32, Issue S1, Pages: 404-406(2006)
- 作者机构：
  
  1:长春光学精密机械与物理研究所技术光学室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2006
- 稿件说明：
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Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 404-406.
DOI：

Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 404-406. DOI：

摘要

在分析采样理论和微扫描理论的基础上

引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数

定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。

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