A new method for testing luminance uniformity of OLED

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A new method for testing luminance uniformity of OLED

更新时间：2025-09-01

- A new method for testing luminance uniformity of OLED
- Issue 1, Pages: 41-43(2007)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  2. 2:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  3. 3:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  4. 4:吉林大学电子科学与工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2007
- 稿件说明：
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A new method for testing luminance uniformity of OLED[J]. 2007, (1): 41-43.
DOI：

A new method for testing luminance uniformity of OLED[J]. 2007, (1): 41-43. DOI：

摘要

根据CCD的成像特点

建立了CCD感光像素与OLED显示像素亮度的关系

从而提出了一种由CCD采集图像分析OLED显示设备亮度均匀度的理论方法。给出了一种基于CCD摄像器件的测试平台与软件系统

阐述了测试平台的主要组成、工作流程以及设计要点等。给出了OLED样板的测试评估结果

表明了这种基于CCD的测试平台与评估理论的方法是快捷而有效的。

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