Approach of measuring 3D profile with binary optical element

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Approach of measuring 3D profile with binary optical element

更新时间：2025-09-01

- Approach of measuring 3D profile with binary optical element
- Issue 2, Pages: 189-192(2007)
- 作者机构：
  
  1. 1:苏州大学信息光学研究所
  2. 2:苏州大学信息光学研究所
  3. 3:苏州大学信息光学研究所
  4. 4:苏州大学信息光学研究所,江苏,苏州,215006
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2007
- 稿件说明：
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Approach of measuring 3D profile with binary optical element[J]. 2007, (2): 189-192.
DOI：

Approach of measuring 3D profile with binary optical element[J]. 2007, (2): 189-192. DOI：

摘要

提出了采用二元光学元件(BOE)进行三维形貌测量的新方法。设计二元光学元件产生空间二维点阵结构光

经物面调制后的点阵信息被相机一次获取

利用三角测量法得到物体的三维空间坐标。按该方法处理得到的结果与实际物体的形貌特征吻合。结果表明

按该测量系统具有便捷式功能

适用于三维照相等应用领域。

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