Effect of Fourier transform profilometry by sampling of CCD

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Effect of Fourier transform profilometry by sampling of CCD

更新时间：2025-09-01

- Effect of Fourier transform profilometry by sampling of CCD
- Issue 6, Pages: 915-917(2007)
- 作者机构：
  
  1. 1:湖南文理学院物理与电子科学系
  2. 2:湖南文理学院物理与电子科学系
  3. 3:重庆文理学院物理与信息工程系
  4. 4:湖南文理学院物理与电子科学系,湖南,常德,415000
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2007
- 稿件说明：
移动端阅览
Effect of Fourier transform profilometry by sampling of CCD[J]. 2007, (6): 915-917.
DOI：

Effect of Fourier transform profilometry by sampling of CCD[J]. 2007, (6): 915-917. DOI：

摘要

从傅里叶变换轮廓术(FTP)原理入手

分析了傅里叶变换过程中频谱的产生

给出了CCD像元信号强度及其经抽样后的变形条纹的表达式

得出了变形条纹的傅里叶频谱式

其频谱是原连续函数的频谱在频域内的无限重复

即"频谱岛"。频谱中除了基频外

还产生了二级、三级等的高级频谱。给出了抽样条件及满足抽样条件的方法:当抽样频率与光栅基频的比值m4时可以恢复物体的面形

反之不能;减小抽样间隔可以使m4。给出了实验结果:当m=2.0883时

物体面形没有恢复;当m=16.6667时

物体面形得到了恢复。实验结果证明了理论分析的正确性。

Abstract

关键词

Keywords

references

Views

184

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

Binary CGH drawing and making

Non-local prior image dehazing algorithm based on neutrosophy

Variational Retinex defogging algorithm based on structure and texture awareness

Abnormal crowd behavior detection using improved C3D-RF under Video Surveillance

Lens distortion measurement and correction by Fringe-pattern analysis

Related Author

李攀

张金润

卢宏

于坤

焦青亮

刘子龙

蒋依芹

刘玉芳

Related Institution

1:华中科技大学武汉光电国家研究中心

1:河南师范大学物理学院河南省红外材料光谱测量与应用重点实验室

2:中国计量科学研究院光学与激光计量研究所

1:苏州科技大学电子与信息工程学院

2:南京航空航天大学电子信息工程学院

⁰