The effect of image noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques

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The effect of image noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques

更新时间：2025-09-01

- The effect of image noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques
- Vol. 32, Issue S1, Pages: 425-427(2006)
- 作者机构：
  
  1:长春光学精密机械与物理研究所技术光学室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2006
- 稿件说明：
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The effect of image noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 425-427.
DOI：

The effect of image noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 425-427. DOI：

摘要

介绍了光电成像系统的噪声

运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大

使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配

引起图像质量的改善。用计算机进行了模拟实验。

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