Measurements of the absolute intensity in the wavelength 12～34nm

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更新时间：2025-09-01

- Measurements of the absolute intensity in the wavelength 12～34nm
- Issue 2, Pages: 211-214(2008)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  2. 2:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  3. 3:中国科技大学国家同步辐射实验室
  4. 4:中国科技大学国家同步辐射实验室北京100081中国计量科学研究院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2008
- 稿件说明：
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Measurements of the absolute intensity in the wavelength 12～34nm[J]. 2008, (2): 211-214.
DOI：

Measurements of the absolute intensity in the wavelength 12～34nm[J]. 2008, (2): 211-214. DOI：

介绍了利用双极型稀有气体电离室进行真空紫外波段(12~34nm)绝对光强测量的方法

并对Ar在12~34nm波段的电离吸收截面进行了测量。讨论了在利用稀有气体电离室进行绝对光强测量时

二次电离对测量结果的影响。通过建立适当的数学模型来确定二次电离系数。

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