Development and application of nano-moiré method with high-resolution microscopy

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Development and application of nano-moiré method with high-resolution microscopy

更新时间：2025-09-01

- Development and application of nano-moiré method with high-resolution microscopy
- Issue 2, Pages: 294-297(2008)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学理学院力学系
  2. 2:山东王晁煤电集团新宏煤业有限公司
  3. 3:北京理工大学理学院力学系
  4. 4:清华大学工程力学系破坏力学重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2008
- 稿件说明：
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Development and application of nano-moiré method with high-resolution microscopy[J]. 2008, (2): 294-297.
DOI：

Development and application of nano-moiré method with high-resolution microscopy[J]. 2008, (2): 294-297. DOI：

摘要

介绍了近年来发展的纳米云纹法及其新的应用。这些方法是基于原子力显微镜、扫描隧道显微镜和透射电子显微镜的原理提出来的。纳米云纹法能够对物体的微/纳观变形提供定量的分析。详述了这些方法的测量原理和实验技术

并进行了新的应用研究。实验结果论证了这些方法的可行性

并证实了这些方法具有纳米级的位移测量灵敏度。

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