浏览全部资源
扫码关注微信
1:首都师范大学检测成像实验室
Published:2008
移动端阅览
Indirect measurement of X-ray spectrum[J]. 2008, (4): 503-508.
DOI:
Indirect measurement of X-ray spectrum[J]. 2008, (4): 503-508. DOI:
X光机的X射线能量谱在CT图像硬化校正、散射校正和定量CT成像等技术中扮演着重要角色。提出了一种通过由质量衰减系数已知的材料构成的楔型模体的扫描数据来恢复X射线能量谱的方法。经GEANT4模拟数据及实采数据验证
该方法能够较好地恢复X光机的X射线能量谱。通过仿真实验
分析了在几个常用电压下模体材质和厚度对恢复X射线能量谱的影响。
0
Views
272
下载量
2
CSCD
Publicity Resources
Related Articles
Related Author
Related Institution