Analyzing wavelet transform profilometry in the restraining CCD nonlinear characteristic

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Analyzing wavelet transform profilometry in the restraining CCD nonlinear characteristic

更新时间：2025-09-01

- Analyzing wavelet transform profilometry in the restraining CCD nonlinear characteristic
- Vol. 35, Issue 1, Pages: 37-40(2009)
- 作者机构：
  
  1:四川大学电子信息学院光电系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2009
- 稿件说明：
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Analyzing wavelet transform profilometry in the restraining CCD nonlinear characteristic[J]. 2009, 35(1): 37-40.
DOI：

Analyzing wavelet transform profilometry in the restraining CCD nonlinear characteristic[J]. 2009, 35(1): 37-40. DOI：

摘要

对比研究了CCD非线性对小波变换轮廓术和傅里叶变换轮廓术的影响

并从信号频域角度分析推导出考虑CCD非线性时

变形条纹的小波变换的频谱描述形式

得到了"脊"处小波系数的解析表达式。处理由CCD非线性引起的非完善的条纹图时

采用小波变换轮廓术提取相位

实质是采用最佳的加权滤波窗口

这样能减弱CCD非线性引起的频谱混叠对测量的影响

可以得到比傅里叶变换轮廓术更稳定的恢复效果。计算机模拟验证了此结论的正确性。

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