Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique

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Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique

更新时间：2025-09-01

- Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique
- Vol. 35, Issue 4, Pages: 630-634(2009)
- 作者机构：
  
  1:黑龙江大学电子工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC：
- Published：2009
- 稿件说明：
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Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique[J]. 2009, 35(4): 630-634.
DOI：

Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique[J]. 2009, 35(4): 630-634. DOI：

摘要

介绍了由Sheik-Bahae等人提出的、用于测量材料三阶非线性的单光束Z-scan技术。该技术能同时测量材料的非线性折射和非线性吸收

并能给出非线性折射的符号。介绍了以该技术为基础并经改进的几种测量技术:遮挡Z-scan

I-scan和微分Z-scan。引出了近10年来新发展的相位4f相干成像技术

并对其基本原理进行了阐述

分析了其应用特点。该技术具有使用单脉冲进行测量

光路简单

测量灵敏度高

无样品移动等特点。

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