System calibration technique of profilometry by projected grating

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.012

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System calibration technique of profilometry by projected grating

更新时间：2025-09-01

- System calibration technique of profilometry by projected grating
- Issue 2, Pages: 126-129(2000)
- 作者机构：
  
  1. 1:清华大学机械工程系,北京,100084
  2. 2:清华大学机械工程系,北京,100084
  3. 3:清华大学机械工程系,北京,100084
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.012
  CLC：
- Published：2000
- 稿件说明：
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System calibration technique of profilometry by projected grating[J]. 2000, (2): 126-129.
DOI：

System calibration technique of profilometry by projected grating[J]. 2000, (2): 126-129. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.012.

摘要

针对在光栅投影轮廓测量术中系统标定可操作性不强、精度不高的问题进行了全面的分析

在此基础上提出一种新的系统结构

并推导了物相关系。由于去掉了传统结构的平行和垂直两个约束条件

测量系统中摄像机和投影装置可以采取任意相对位置

操作十分灵活。对新系统提出了方便实用的标定方法

在其中引入了摄像机定标技术。应用该测量系统和标定技术进行实例检测

测量结果证明 :与传统方法相比

可操作性和检测精度得到了提高

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