Scanning probe microscopy of combined SNOM/SFM cantilever probe

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更新时间：2025-09-01

- Scanning probe microscopy of combined SNOM/SFM cantilever probe
- Issue 2, Pages: 136-138(2000)
- 作者机构：
  
  1. 1:同济大学Pohl固体物理研究所,上海,200092
  2. 2:同济大学Pohl固体物理研究所,上海,200092
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.015
  CLC：
- Published：2000
- 稿件说明：
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Scanning probe microscopy of combined SNOM/SFM cantilever probe[J]. 2000, (2): 136-138.
DOI：

Scanning probe microscopy of combined SNOM/SFM cantilever probe[J]. 2000, (2): 136-138. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.02.015.

采用光纤探针的扫描近场光学显微镜 (SNOM)存在某些弱点

如探针特别脆

不易贴近样品表面扫描

探针的转输效率低等。近年来发展了将SFM /SNOM结合起来的扫描探测显微镜。利用微加工工艺技术

将小孔集成在悬臂探针中

使探针既能批量制备

又具有很好的重复性。探针悬臂在垂直于样品表面方向上的弹性常数较小

针尖不易损坏。在接触模式中利用这种SFM /SNOM组合探针可将样品的形貌像、摩擦力和光学透射像等信息同时记录下来。对于综合研究样品表面的介观性质十分有利。

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