Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017

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Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide

更新时间：2025-09-01

- Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide
- Vol. 36, Issue 5, Pages: 733-735(2010)
- 作者机构：
  
  1:中国计量科学研究院光学所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017
  CLC：
- Published：2010
- 稿件说明：
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Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide[J]. 2010, 36(5): 733-735.
DOI：

Study on standard sample of polarization dependent loss manufactured by SOI asymmetric-ridge waveguide[J]. 2010, 36(5): 733-735. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017.

摘要

通过制备非对称结构SOI脊型波导

设计并优化得到一个偏振相关损耗标准样品

通过与标准单模光纤耦合封装

实现了偏振相关损耗测试仪表的快速校准。该器件偏振相关损耗值为0.58dB

测量重复性相对标准差为0.02

测量不确定度为0.2dB。

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