Research on the accuracy of multi-aperture overlap-scanning technique using target function

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更新时间：2025-09-01

- Research on the accuracy of multi-aperture overlap-scanning technique using target function
- Vol. 37, Issue 4, Pages: 392-396(2011)
- 作者机构：
  
  1:华信邮电咨询设计研究院有限公司
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2011.04.002
  CLC：
- Published：2011
- 稿件说明：
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Research on the accuracy of multi-aperture overlap-scanning technique using target function[J]. 2011, 37(4): 392-396.
DOI：

Research on the accuracy of multi-aperture overlap-scanning technique using target function[J]. 2011, 37(4): 392-396. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2011.04.002.

在较大孔径放大系数(4)的情况下

结合实验结果

从拼接模式、被测面形、测量误差和不同孔径放大系数的角度出发

分析了各种因素对目标函数拼接技术精度的影响

为高精度检测和控制大口径光学元件表面面形(波前)提供了依据。

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