您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
Design and realization of automatic exposure of TDX-200 transmission electron microscopy
更新时间:2025-09-01
    • Design and realization of automatic exposure of TDX-200 transmission electron microscopy

    • Vol. 38, Issue 4, Pages: 431-434(2012)
    • DOI:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.04.011    

      CLC:
    • Published:2012

    移动端阅览

  • Design and realization of automatic exposure of TDX-200 transmission electron microscopy[J]. 2012, 38(4): 431-434. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.04.011.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

Views

322

下载量

0

CSCD

Alert me when the article has been cited
提交
Tools
Download
Export Citation
Share
Add to favorites
Add to my album

Related Articles

Study on the influence of magnetic circuit defect on objective lens performance
Calibration based on scene-exposure for intensity response function of digital color camera

Related Author

刘雪萍
董全林
张秀艳
吴波
符泰然
程晓舫

Related Institution

1:微纳测控与低维物理教育部重点实验室
2:国家"惯性技术"重点实验室
3:北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院
1:中国科学技术大学热科学和能源工程系
2:中国科学技术大学热科学和能源工程系
0