Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment

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更新时间：2025-09-01

- Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment
- Vol. 38, Issue 6, Pages: 729-733(2012)
- 作者机构：
  
  1:清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.06.017
  CLC：
- Published：2012
- 稿件说明：
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Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment[J]. 2012, 38(6): 729-733.
DOI：

Measurement algorithm for sub-pixel line width in images based on Zernike moment[J]. 2012, 38(6): 729-733. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2012.06.017.

针对图像内的细窄线宽

提出了一种基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽检测算法。该算法具有明确的几何模型

通过计算图像的2阶和4阶Zernike正交矩

推导出了亚像素线宽表达式。根据数字图像的离散性

给出了计算正交矩所需的模板系数

并分析了由离散性造成的原理误差。将所提出的亚像素线宽检测技术应用于安瓿内异物粒径的标定实验

结果表明:该算法可有效地测量弱小目标在图像中的亚像素线宽值

从而得到了异物粒径大小与亚像素线宽之间的标定曲线。

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