Design of linear refractive index sensor within infrared waveband based on one dimension photonic crystal

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.02.010

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Design of linear refractive index sensor within infrared waveband based on one dimension photonic crystal

更新时间：2025-09-01

- Design of linear refractive index sensor within infrared waveband based on one dimension photonic crystal
- Vol. 44, Issue 2, Pages: 183-187(2018)
- 作者机构：
  
  1:成都信息工程大学光电技术学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.02.010
  CLC：
- Published：2018
- 稿件说明：
移动端阅览
Design of linear refractive index sensor within infrared waveband based on one dimension photonic crystal[J]. 2018, 44(2): 183-187.
DOI：

Design of linear refractive index sensor within infrared waveband based on one dimension photonic crystal[J]. 2018, 44(2): 183-187. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.02.010.

摘要

基于传输矩阵理论和光学谐振原理

研究了含敏感空气缺陷层的一维光子晶体谐振腔的谐振特性

建立起敏感气体折射率变与红外波段谐振峰波长之间的线性变化关系。设计了基于红外波段光子晶体谐振腔的线性折射率传感器

利用MATLAB软件数值模拟

得到线性传感器的半峰带宽小到3nm左右、Q值可达到1400、敏感度可达1070nm/RIU。在光谱仪的分辨率为0.01nm时

传感器的分辨率可达9.35×10-6 RIU。结果表明

基于光子晶体结构的折射率传感器

具有良好的线性特性、高的灵敏度以及高Q值等特点

可为气体折射率检测提供一定的理论参考。

Abstract

关键词

Keywords

references

Views

151

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

Numerical simulation of photon scanning tunnel microscope image with nanostructure thin film fiber probe

Structural color of butterflies wings living in temperate zone

Real-time compensation of high efficiency grinding for the large aperture mirror

Fresnel reflection coefficients on the surfaces of type-Ⅰ and type-Ⅱ Weyl semimetals

Tuning the thermophysical property of polyimide thin films by in-plane microstructure design

Related Author

董亮

简国树

王旗

潘石

杨树

陈佳颖

于建海

于秋跃

Related Institution

1:大连理工大学物理与光电工程学院

2:大连理工大学物理与光电工程学院

3:大连理工大学物理与光电工程学院

4:大连理工大学物理与光电工程学院

1:上海工程技术大学纺织服装学院

⁰