Resolution enhancement technique for light field microscopy based 3D reconstruction of micro structure topography

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.04.001

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Resolution enhancement technique for light field microscopy based 3D reconstruction of micro structure topography

更新时间：2025-09-01

- Resolution enhancement technique for light field microscopy based 3D reconstruction of micro structure topography
- Vol. 44, Issue 4, Pages: 385-390(2018)
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室
  2. 2:清华大学深圳研究生院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.04.001
  CLC：
- Published：2018
- 稿件说明：
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Resolution enhancement technique for light field microscopy based 3D reconstruction of micro structure topography[J]. 2018, 44(4): 385-390.
DOI：

Resolution enhancement technique for light field microscopy based 3D reconstruction of micro structure topography[J]. 2018, 44(4): 385-390. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2018.04.001.

摘要

扫描式的测量技术是目前微结构表面形貌测量的主流技术

但需要高精度的机械扫描、较长的测量时间。针对其问题

结合光场显微技术和傅里叶叠层显微技术

提出了一种分辨率增强的三维重构技术

通过在常规显微成像系统中加入光学编码元件

使用单次曝光而获得被测工件的光学切片序列

基于傅里叶叠层显微技术实现了对切片图像横向分辨率的增强

克服了光场成像技术中的分辨率损失。实验证明

提出的三维重构技术对于微结构表面加工过程的在线测量具有较好的应用前景。

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