The technology of short-wave infrared imaging spectroscopy applied to detecting wheat scab

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.05.008

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The technology of short-wave infrared imaging spectroscopy applied to detecting wheat scab

更新时间：2025-09-01

- The technology of short-wave infrared imaging spectroscopy applied to detecting wheat scab
- Vol. 45, Issue 5, Pages: 552-556(2019)
- 作者机构：
  
  1. 1:海南大学机电工程学院
  2. 2:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光栅中心
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.05.008
  CLC：
- Published：2019
- 稿件说明：
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The technology of short-wave infrared imaging spectroscopy applied to detecting wheat scab[J]. 2019, 45(5): 552-556.
DOI：

The technology of short-wave infrared imaging spectroscopy applied to detecting wheat scab[J]. 2019, 45(5): 552-556. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2019.05.008.

摘要

小麦是人类主要食物来源之一

广泛分布于世界各地。赤霉病是小麦的主要病害

目前赤霉病的检测技术无法实现小麦快速、无损的在线检测。为了研究短波红外成像光谱技术应用于小麦赤霉病检测的可行性

基于LabVIEW开发专用于样品检测的数据采集系统

利用短波红外光谱仪获取样本光谱图像并进行数据分析与处理。实验数据表明:赤霉病小麦种子与健康小麦种子的短波红外光谱图像在1350～1600nm光谱范围内谱线数据特征差异明显

证明短波红外成像光谱技术应用于小麦赤霉病的检测具有一定的推广应用性。

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