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1:上海理工大学光电信息与计算机工程学院
Published:2021
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Three-dimensional stitching of stereo-deflectometry based on marker[J]. 2021, 47(1): 45-49.
DOI:
Three-dimensional stitching of stereo-deflectometry based on marker[J]. 2021, 47(1): 45-49. DOI: 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2021.01.009.
立体偏折法作为一种非接触式镜面表面三维测量方法
近年来发展迅速。为了解决传统立体偏折法难以测量较大倾角曲面的问题
提出了一种基于标志点的三维拼接立体偏折法。先利用立体偏折法测量不同视角下的曲面子区域的三维点云
同时通过立体视觉测量样品台上标志点的三维坐标
使用标志点坐标进行粗拼接
再通过迭代最近点算法进行精拼接
最终重构出完整的三维面型。实际搭建了一套三维拼接立体偏折测量系统
测量了一个倾角25.8°的光滑凸球面反射镜
拼接后球面拟合误差在3μm以内。实验结果验证了方法的可行性
对立体偏折法应用于大口径和大倾角的复杂光学曲面三维测量具有借鉴意义。
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