Far-field Sub-wavelength microscopic imaging properties of microsphere lenses

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.01.014

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Far-field Sub-wavelength microscopic imaging properties of microsphere lenses

更新时间：2025-09-01

- Far-field Sub-wavelength microscopic imaging properties of microsphere lenses
- Vol. 48, Issue 1, Pages: 60-64(2022)
- 作者机构：
  
  1. 1:安徽科技学院电气与电子工程学院光电技术实验室
  2. 2:南京师范大学物理与科学技术学院纳米光子学实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.01.014
  CLC： TH742
- Published：2022
- 稿件说明：
移动端阅览
Far-field Sub-wavelength microscopic imaging properties of microsphere lenses[J]. 2022, 48(1): 60-64.
DOI：

Far-field Sub-wavelength microscopic imaging properties of microsphere lenses[J]. 2022, 48(1): 60-64. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.01.014.

摘要

利用低折射率的二氧化硅和高折射率的钛酸钡微球透镜对蓝光刻录光碟的亚波长表面结构进行了显微成像实验

观察了两类微球在空间上与样品表面分离时的成像特性。实验结果表明:在微球透镜与样品表面分离0～6μm的空间范围内

微球透镜对亚波长纳米结构仍具有分辨能力

且放大作用明显。通过实验比较

发现在浸没方式、放大率大小、成像尺度范围等方面

高折射微球表现出不同于低折射微球的远场特性。微球透镜的电场强度仿真表明

微球成像特性受电场分布的影响明显

为进一步揭示微球超分辨显微成像的机理提供了依据。

Abstract

利用低折射率的二氧化硅和高折射率的钛酸钡微球透镜对蓝光刻录光碟的亚波长表面结构进行了显微成像实验

观察了两类微球在空间上与样品表面分离时的成像特性。实验结果表明:在微球透镜与样品表面分离0～6μm的空间范围内

微球透镜对亚波长纳米结构仍具有分辨能力

且放大作用明显。通过实验比较

发现在浸没方式、放大率大小、成像尺度范围等方面

高折射微球表现出不同于低折射微球的远场特性。微球透镜的电场强度仿真表明

微球成像特性受电场分布的影响明显

为进一步揭示微球超分辨显微成像的机理提供了依据。

关键词

Keywords

references

Views

下载量

CSCD

Alert me when the article has been cited

提交

Tools

Publicity Resources

Microscopic imaging of sub-wavelength surface pattern based on microsphere lenses

Phase measurement system of transport of intensity equation based on LED illumination

Microsphere-assisted phase-shifting interference three-dimensional morphology measurement

The method of axial fast identified focus of laser differential confocal microscopy imaging

Measurement of the attenuation coefficient of surface acoustic wave by phenomena of the asymmetry of diffraction patterns

Related Author

郭明磊

官邦贵

王玉莲

郑兆聪

邓定南

江泽标

陶雪辰

吕宋

Related Institution

1:安徽科技学院电气与电子工程学院光电工程实验室

1:嘉应学院物理与光信息科技学院

1:上海理工大学光电信息与计算机工程学院

1:北京理工大学光电学院"精密光电测试仪器及技术"北京市重点实验室

2:陕西师范大学物理学与信息技术学院

⁰