Research on particle size of suspended particles in water measurement technology by Dual-CMOS based on forward light scattering

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.06.014

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Research on particle size of suspended particles in water measurement technology by Dual-CMOS based on forward light scattering

更新时间：2025-09-01

- Research on particle size of suspended particles in water measurement technology by Dual-CMOS based on forward light scattering
- Vol. 48, Issue 6, Pages: 696-702(2022)
- 作者机构：
  
  1. 1:安徽大学物质科学与信息技术研究院安徽省信息材料与智能感知实验室
  2. 2:中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室
  3. 3:合肥学院
  4. 4:中国科学技术大学环境科学与光电技术学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.06.014
  CLC： X832
- Published：2022
- 稿件说明：
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Research on particle size of suspended particles in water measurement technology by Dual-CMOS based on forward light scattering[J]. 2022, 48(6): 696-702.
DOI：

Research on particle size of suspended particles in water measurement technology by Dual-CMOS based on forward light scattering[J]. 2022, 48(6): 696-702. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2022.06.014.

摘要

基于CMOS探测器的静态光散射法能够实现水体悬浮颗粒物粒度分布的快速检测，受探测器工作特性和面幅大小的限制，前向光散射的CMOS粒度测量范围和精度难以提高。提出了颗粒前向光散射的双CMOS测量技术，重点研究双CMOS散射信号拼接测量方法，设计消除背景干扰的CMOS探测器分环方式，实现宽粒径范围颗粒粒度的准确测量。实验结果表明：基于CMOS探测器的颗粒粒度测量上限提高到了1000μm

1000μm、500μm标样的D_(50)测量相对误差分别为0.7%、0.1%

大粒径颗粒粒度测量准确度高；同时双CMOS探测的方式将单CMOS的粒度测量下限由5μm提高到了2μm

5μm、2μm标样D_(50)相对误差分别由单CMOS的15.0%、51.1%下降至双CMOS的1.4%、2.6%。

Abstract

1000μm、500μm标样的D

测量相对误差分别为0.7%、0.1%

大粒径颗粒粒度测量准确度高；同时双CMOS探测的方式将单CMOS的粒度测量下限由5μm提高到了2μm

5μm、2μm标样D

相对误差分别由单CMOS的15.0%、51.1%下降至双CMOS的1.4%、2.6%。

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