Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008

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Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation

更新时间：2025-09-01

- Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation
- Vol. 49, Issue 1, Pages: 64-69(2023)
- 作者机构：
  
  1. 1:中北大学仪器与电子学院
  2. 2:中北大学前沿交叉科学研究院
  3. 3:中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008
  CLC： TH74
- Published：2023
- 稿件说明：
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Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation[J]. 2023, 49(1): 64-69.
DOI：

Study on data processing of birefringence measurement system based on photoelastic modulation[J]. 2023, 49(1): 64-69. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2023.01.008.

摘要

干涉法和补偿法等双折射测量方法需要转动待测样品或偏振元件，操作不便、测量速度慢、精度有限。提出了一种双弹光调制与上位机组成的双折射系统。由弹光调制来产生调制信号，加载待测样品信息，调制信号采集至上位机中进行数据处理，进一步完成延迟量和快轴方位角求解。对测试方案原理进行分析，重点进行了系统数据处理的上位机设计与实现，完成了软硬件系统搭建。采用1/4波片进行了实验测试，实验结果表明延迟量测量相对误差为2%

快轴方位角测量相对误差为0.4%

延迟量和快轴方位角的标准差分别为0.056nm和0.022°。

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