Exploring the method of measuring the refractive index of parallel transparent materials by tolansky interferometer

doi:10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2024.04.008

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Exploring the method of measuring the refractive index of parallel transparent materials by tolansky interferometer

更新时间：2025-09-01

- Exploring the method of measuring the refractive index of parallel transparent materials by tolansky interferometer
- Vol. 50, Issue 4, Pages: 459-465(2024)
- 作者机构：
  
  1. 1:中国计量大学计量测试与仪器学院
  2. 2:宁波市计量测试研究院(宁波新材料检验检测中心)
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2024.04.008
  CLC： O436.1
- Published：2024
- 稿件说明：
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Exploring the method of measuring the refractive index of parallel transparent materials by tolansky interferometer[J]. 2024, 50(4): 459-465.
DOI：

Exploring the method of measuring the refractive index of parallel transparent materials by tolansky interferometer[J]. 2024, 50(4): 459-465. DOI： 10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2024.04.008.

摘要

为提高平行透明材料折射率的测量精度，提出了一种基于Tolansky干涉的折射率测量方法。通过几何光学理论的分析，建立了Tolansky干涉同心圆环的圆心侧移量与折射率之间的关系；构建了一个平行透明材料折射率测量仿真模型，对测量方法进行了虚拟实验研究，考察了方法的可行性；搭建了实验系统完成玻璃薄片折射率的测量，并与其他仪器进行了比较。实验结果表明，在测得材料旋转角度、干涉圆环圆心侧移量和材料厚度后，所得折射率计算值与理论值之间的相对误差仅为0.11%

为折射率高精度测量提供了一种新的可行方案。不确定评定结果显示，这种方法的测量结果受被测材料的厚度影响最大。

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