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纸质出版:1977
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CHY-T型投影式测厚仪简介[J]. 光学技术, 1977,(1).
CHY-T型投影式测厚仪简介[J]. 光学技术, 1977,(1). DOI:
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投影式测厚仪主要用于测量各种光学零件的中心厚度。该仪器的主要特点是读数直观、使用文便。测量范围:0~50毫米
测量精度:0.01毫米
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