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纸质出版:1982
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山深闻. 横向剪切干涉仪干涉条纹的对比度[J]. 光学技术, 1982,(5):12-15.
山深闻. 横向剪切干涉仪干涉条纹的对比度[J]. 光学技术, 1982,(5):12-15. DOI:
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在双光束干涉仪中
表示干涉场特征的几个因素是:条纹的形状和宽度、条纹的亮度、条纹的锐度、条纹的对比度和条纹的颜色。在干涉条纹的形状和宽度知道以后
最重要的因素就是条纹的对比度了。当然
条纹的亮度在一般情况下是可以保证的
条纹的亮度分布是正弦曲线形式的。
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