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纸质出版:1982
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巴图. 用全息干涉计量术的三次曝光法测定位移矢量[J]. 光学技术, 1982,(6):14-15.
巴图. 用全息干涉计量术的三次曝光法测定位移矢量[J]. 光学技术, 1982,(6):14-15. DOI:
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全息干涉计量术的二次曝光法是用来测定物体表面微小位移的有力工具
它在实验力学的各个领域得到了广泛应用。这种方法的不足之处在于只能给出表面位移的绝对值
而不能确定位移的方向。本文提出一种用三次曝光测
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