浏览全部资源
扫码关注微信
纸质出版:1983
移动端阅览
徐德衍. 用平面干涉仪检验反射镜面时改善条纹对比度的几种方法[J]. 光学技术, 1983,(6).
徐德衍. 用平面干涉仪检验反射镜面时改善条纹对比度的几种方法[J]. 光学技术, 1983,(6). DOI:
DOI:
用平面干涉仪的未镀膜标准平板检验已镀膜的光学平板时
由于二者反射率的差异较大致使干涉条纹对比度显著下降
甚至失去检验能力。
0
浏览量
82
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构