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纸质出版:1985
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张玉恩. 问与答[J]. 光学技术, 1985,(2):30-31.
张玉恩. 问与答[J]. 光学技术, 1985,(2):30-31. DOI:
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问:光学零件的N符合图纸要求
△N几乎等于零
为什么检验时象质有时候不好? 答:目前
我国各工厂检验光学零件象质的方法(如:用鉴别率板)是一种综合指标检验。因此
影响象质的因素较多(例如:光圈、角度差、平行差、中心偏等等)
这些指标不仅影响象质
而且有着互相制约或补偿的关系。例如: 1.平面零件或棱镜的平行差不好
光圈虽然很规则
但从微观上看面形和光线的形式却如图1、图2
这种成象形式的出射光线不再
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